på enskilda ledare eller IC-ben.
Det finns ett stort sortiment med prober och tillbehör.
Senaste nytt är prober för testning av IC-chips samt en IC-Scanner.
Programmet ChipScan-ESA underlättar analysen.
Prober för testning av EMC på kretskortsnivå!
Med prober från Langer EMV-Technik kan störningar mätas och injecras
på enskilda ledare eller IC-ben.
Det finns ett stort sortiment med prober och tillbehör.
Senaste nytt är prober för testning av IC-chips samt en IC-Scanner.
Programmet ChipScan-ESA underlättar analysen.
Exempel på probar:
